Modellizzazione e controllo per microscopio a forza atomica

In questo elaborato verrà discussa la progettazione di un sistema di controllo per il movimento verticale del supporto di un microscopio a forza atomica. Nel dettaglio verrà fatta un’introduzione allo strumento, illustrandone i principi e le configurazioni di funzionamento. Si presentano due modelli meccanici per la descrizione del modello verticale, e per ognuno saranno presentati veri tipi di controllori con l’analisi delle caratteristiche e differenze fra le varie tecniche adottate. Verrà inoltre presentata un’analisi per la reiezione ai disturbi che avrà il compito di illustrare, per vari controllori, come essi reagiscono alla presenza di rumori e disturbi esterni, con un’analisi degli impatti di essi sul segnale acquisito dal microscopio.